目前在智能手機(jī)測(cè)試中，通常都是用射頻測(cè)試頭與手機(jī)主板上的射頻開(kāi)關(guān)（或板端連接器）連接：射頻測(cè)試頭金屬內(nèi)芯在彈簧的壓力下深入射頻開(kāi)關(guān)（或板端連接器）內(nèi)部與射頻開(kāi)關(guān)內(nèi)金屬簧片（或板端連接器金屬內(nèi)芯）連接導(dǎo)通；射頻測(cè)試頭內(nèi)凹型剛性金屬外導(dǎo)體在彈簧的壓力下與射頻開(kāi)關(guān)（板端連接器）外圓金屬導(dǎo)體端面接觸導(dǎo)通。而在實(shí)際測(cè)試中，因?yàn)橹尉呔仍颍漕l測(cè)試頭經(jīng)常在連接過(guò)程中產(chǎn)生小幅度的偏斜，使得射頻測(cè)試頭外導(dǎo)體與射頻開(kāi)關(guān)（或板端連接器）外導(dǎo)體間并不是整個(gè)端面接觸，而僅僅是一點(diǎn)接觸，接觸可靠性差，從而導(dǎo)致誤測(cè)率高，嚴(yán)重影響測(cè)試效率和測(cè)試的準(zhǔn)確性。我公司新
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